엑스레이발생기 |
하전입자를 가속시켜 방사선을 발생시키는 장치로서, 물체의 거시적인 내부구조를 탐지하거나 물질의 원자차원에서의 미시적인 구조를 규명하는 데 없어서는 안될 수단이 되고 있는 엑스선을 발생하는 장치. 고전압 발생장치와 엑스선관으로 구성되어 있고 방엑스선장치와 조리개, 각종 안전장치가 구비되어 있으며, 전압에 의하여 엑스선의 품질을, 전류에 의하여 엑스선의 세기를 조절함. |
전량계 |
화학변화의 정량분석에 의해 전기용량을 측정하는 장치로서 전기분해 중에 전위를 일정하게 유지하면서 행하는 정전위방식과, 전기분해시 전류를 일정하게 유지하면서 행하는 정전류방식이 있음. |
검전기 |
전류, 전하, 전위의 유무를 검사하는 측정기로서, 저압용·고압용 및 특별고압용이 있으며, 형태별로는 드라이버형, 펜슬형 등이 있음. 단, 검전병과 발전판으로 구성된 금속박검전기는 별도로 분류함. |
자속계 |
자속을 측정하는 전기기구로서, 적당한 보정으로 자장의 강도를 측정하는데 사용될 수 있음. |
자력계 |
자기장의 세기와 방향을 측정하는 기기로서, 물체가 가진 자화의 세기를 재는 장치와 자력계도 포함함. |
전자회절장치 |
전자빔이 파동성을 가지고 빛처럼 회절하는 것을 실험하는 장치로 전자기파의 회절방향과 드브로이의 공식에 의해 규정되는 전자빔의 파장 사이에는 X선회절의 경우와 마찬가지로 브래그조건이 성립되므로 이것을 근간으로 하여 물질, 특히 결정의 원자배열 상태를 추정할 수가 있음. 박막, 표면층, 미결정, 기체분자의 구조를 조사하는데 이용됨. |
전자탐침마이크로분석기 |
가는 전자선을 시료의 미세부분(㎛ 정도)에 조사할 때 시료표면에서 발생하는 특성 X선을 검출하여 0.001%에서 100%사이의 농도범위 원소(4Be에서 92U까지)를 비교적 정확히 분석할 수 있는 장치. 또한 이 때 발생하는 전자나 빛의 신호를 이용하여, 기하학적 형태나 전기적 특성, 결정상태 등을 알 수도 있음. |
입자가속기 |
전자(e)나 양성자(p) 같은 하전입자를 강력한 전기장이나 자기장 속에서 가속시켜 큰 운동에너지를 발생시키는 장치. |
엑스선장치제어기 |
엑스선 탐상기용 제어장치로서, 엑스선 발생장치를 제어하여 재료(소재 또는 부품) 결함의 탐지를 위한 최적의 상태를 유지하도록 하는 장치이고, 이 제어기는 엑스선 발생장치의 전압,전류 및 시간을 제어하는 기능과 장치의 조작상태를 표시할 수 있는 기능으로 구성되며, 또 전압 및 전류가 고정인 경우에는 노출시간 등 일부의 기능만 조작하는 기능으로 구성하기도 함. |